Misura di fluorescenza indotta da laser con ENEA

Misura di fluorescenza indotta da laser con ENEA

La dimostrazione proposta riguarda diagnostiche in situ e remote su un traliccio di metallo, parte della struttura originale della gru per il trasferimento delle merci nei Magazzini Generali in Roma (oggi sede dell’ISA). Si tratta di una demo originale su metallo effettuata con tecniche ampiamente dimostrate per il BC storici nel caso di superfici lapidee e dipinti. Il gruppo ENEA effettuerà  misure LIF, raccogliendo anche le immagini di riferimento, mentre il gruppo CNR-IC e quello dell’Università di Roma 3 effettueranno rispettivamente analisi XFR e Raman su selezionati punti della struttura.

La misura della fluorescenza indotta da laser (LIF), consente la raccolta di dati spettroscopici risolti in lunghezza d’onda, in tempo o  in forma di immagini, quando è accoppiata ad uno scanner permette di ricavare in maniera rapida informazioni sulla distribuzione di materiali fluorescenti su ampie superfici, per verificarne l’omogeneità, lo stato di conservazione e la presenza di materiali relativi a precedenti interventi di recupero. I due prototipi per analisi remote messi a punto dall’ENEA operano nell’Ultravioletto (a 248 nm e a 266 nm) e sono anche sensibili alla presenza di biodegrado. Il LIF-scanning consente la raccolta di spettri, anche risolti in tempo, mentre FORLAB raccoglie grandi immagini a differenti lunghezze d’onda preselezionate.

La Fluorescenza dei raggi X (XRF) è un’analisi spettroscopica che consente di individuare gli elementi presenti nel punto in esame, anche al di sotto della superficie. L’intensità del segnale misurata, in prima approssimazione, dà anche una stima della quantità degli elementi presenti. Le misure sono eseguite con uno strumento portatile con sorgente di raggi X al tungsteno (W), un rivelatore Silicon drift raffreddato Peltier completo del suo amplificatore-alimentatore e del multicanale (Amptek MCA 8000A). La risoluzione del rivelatore è di 140 eV a 5.9 keV (Mn Kα). Il generatore X è alimentato con una tensione di 38 kV ed una corrente di 350 µA. Con questa strumentazione si rivelano tutte le righe K per gli elementi con 12<Z<52 e le righe L degli elementi con Z>35. 

    La spettroscopia è una tecnica analitica assolutamente non distruttiva, portatile e altamente versatile per la caratterizzazione dei materiali di interesse storico-artistico. Si basa sulla diffusione anelastica della luce e permette una identificazione univoca dei materiali tramite la raccolta dello spettro vibrazionale delle molecole. E’  una tecnica di superficie con una altissima risoluzione spaziale (dell’ordine di qualche micron), utilizzata per il riconoscimento di pigmenti, inchiostri e coloranti; per la caratterizzazione dei materiali costitutivi delle opere e per l’identificazione di prodotti di degrado.

L’attività proposta fa parte del progetto ADAMO, recentemente finanziato nell’ambito del DTC Lazio